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冠层分析仪采用装配鱼眼镜头的相机从树冠下向上拍摄冠层照片，通过多种图像处理手段提取各角度冠层间隙率，反演出冠层参数。仪器内置25个PAR传感器，镜头角度180°，分辨率2592×1944，可测量叶面积指数（LAI）、叶片平均倾角（MTA）、聚集指数、树冠开阔度（DIFN）、郁闭度（CC）、天空散射光透过率及光合有效辐射等指标，具备自动化阈值调节、北斗定位与数据浏览功能。
更新时间：2026-09-30
型号：IN-G30
厂商性质：生产厂家
浏览量：421
高光谱植物表型成像系统基于多视角图像序列，采用计算机视觉算法动态生成植物的高精度3D模型，该模型支持真三维空间下的任意缩放、旋转及平移操作，能够量化分析植物处于空间中心点时的表型参数，如株高、冠层体积、分枝角度等结构特征，实现了从二维平面观测到三维立体解析的跨越。
更新时间：2026-05-11型号：IN-Pheno200厂商性质：生产厂家浏览量：444
树木年轮分析仪是一款专业的树木年轮研究工具，用于对盘状木材截面或柱状生长锥样本进行年轮分析。系统集成了图像采集、分析处理和数据统计等功能，可为林业研究、生态学研究等领域提供准确的数据支持。
更新时间：2026-05-11型号：IN-NL厂商性质：生产厂家浏览量：406
株高测量仪采用内置的光学测距技术代替了传统的拍照式方法，光线系统为密闭式，无光线泄露，减少了环境因素影响，确保在任何条件下都能准确地进行即时测量。
更新时间：2026-05-11型号：IN-ZG01厂商性质：生产厂家浏览量：367
全功能根系分析仪用于洗根后的专业根系分析，也可用于根盒培养植物的根系表型分析，可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖计数等参数，并可兼测针叶、果荚数据，软件能分析根系的形态及整体结构分布，广泛用于根系形态与构造研究。设备采用高质量图形扫描仪获取高分辨率根系图像，扫描面板下方与上盖内均装有双光源照明系统，可避免阴影与光照不均，图像质量稳定，分析结果可导出Excel表。
更新时间：2026-09-30型号：IN-GX03厂商性质：生产厂家浏览量：419
植物根系图像分析仪用于洗根后的专业根系分析，也可用于根盒培养植物的根系表型分析，可分析根系长度、直径、面积、体积、根尖计数等参数，并可兼测针叶、果荚数据，软件能分析根系的形态及整体结构分布，广泛用于根系形态与构造研究。设备采用高质量图形扫描仪获取高分辨率根系图像，扫描面板下方与上盖内均装有双光源照明系统，可避免阴影与光照不均，图像质量稳定，分析结果可导出Excel表。
更新时间：2026-09-30型号：IN-GX03S厂商性质：生产厂家浏览量：91技术支持：仪表网 管理登陆 sitemap.xml
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