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冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律，在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下，采用半理论半经验的公式，通过冠层孔隙率的测定，计算出冠层结构参数。
更新时间：2026-05-12
型号：IN-G30
厂商性质：生产厂家
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高光谱植物表型成像系统基于多视角图像序列，采用计算机视觉算法动态生成植物的高精度3D模型，该模型支持真三维空间下的任意缩放、旋转及平移操作，能够量化分析植物处于空间中心点时的表型参数，如株高、冠层体积、分枝角度等结构特征，实现了从二维平面观测到三维立体解析的跨越。
更新时间：2026-05-11型号：IN-Pheno200厂商性质：生产厂家浏览量：132
树木年轮分析仪是一款专业的树木年轮研究工具，用于对盘状木材截面或柱状生长锥样本进行年轮分析。系统集成了图像采集、分析处理和数据统计等功能，可为林业研究、生态学研究等领域提供准确的数据支持。
更新时间：2026-05-11型号：IN-NL厂商性质：生产厂家浏览量：138
株高测量仪采用内置的光学测距技术代替了传统的拍照式方法，光线系统为密闭式，无光线泄露，减少了环境因素影响，确保在任何条件下都能准确地进行即时测量。
更新时间：2026-05-11型号：IN-ZG01厂商性质：生产厂家浏览量：126
全功能根系分析仪能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析任意一段根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。
更新时间：2026-05-19型号：IN-GX03厂商性质：生产厂家浏览量：140
植物茎杆强度仪可配测位移标尺，可连接电脑测试，可保存、打印，做各种分析，输入速度、面积还可显示位移、压强等参数；可储存999个测试值；大屏幕液晶显示，有背光功能，并具有屏幕数字正、倒反转功能。
更新时间：2026-06-27型号：IN-JG2B厂商性质：生产厂家浏览量：13技术支持：仪表网 管理登陆 sitemap.xml
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