咨询电话

15094971585

当前位置:首页   >  产品中心  >  植物检测仪器  >  

  • IN-GD20植被盖度仪

    植被盖度仪可保存每次分析数据的结果、容差值、颜色值、经纬度、原图、二值图、分析的方式,可导出分析图片文件夹,二值图和文件夹分析结果的excel表格到U盘,方便数据的保存和传输,分析结果更具依据性。

    更新时间:2026-05-12
    型号:IN-GD20
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:17
  • IN-ZG02株高测量仪

    株高测量仪测量杆配备有水平仪及稳固支架,保证了测量过程中的稳定性和精确度。大容量存储 - 内置128GB存储空间,能够同时保存测量日期、作物种类、测量结果、地理位置、作物照片及备注信息。

    更新时间:2026-05-12
    型号:IN-ZG02
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:22
  • IN-GX03根系分析仪

    根系分析仪可不等间距地自定义分段直径,自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等,及其分布参数。能进行根系的颜色分析,输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。

    更新时间:2026-05-11
    型号:IN-GX03
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:36
  • IN-G30冠层分析仪

    冠层分析仪采用了冠层孔隙率与冠层结构相关的原理。它是根据光线穿过介质减弱的比尔定律,在对植物冠层定义了一系列假设前提的条件下,采用半理论半经验的公式,通过冠层孔隙率的测定,计算出冠层结构参数。

    更新时间:2026-05-12
    型号:IN-G30
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:30
  • IN-Pheno200高光谱植物表型成像系统

    高光谱植物表型成像系统基于多视角图像序列,采用计算机视觉算法动态生成植物的高精度3D模型,该模型支持真三维空间下的任意缩放、旋转及平移操作,能够量化分析植物处于空间中心点时的表型参数,如株高、冠层体积、分枝角度等结构特征,实现了从二维平面观测到三维立体解析的跨越。

    更新时间:2026-05-11
    型号:IN-Pheno200
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:16
  • IN-Pheno50高通量植物表型成像系统

    高通量植物表型成像系统根据拍摄植物大小,用户可以通过软件控制将镜头抬高或者降低、机身升高或者下落,以寻找最合适的拍摄位置。

    更新时间:2026-05-11
    型号:IN-Pheno50
    厂商性质:生产厂家
    浏览量:26
共 41 条记录,当前 1 / 7 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
扫码加微信
©2026 山东来因光电科技有限公司版权所有 All Rights Reserved.     备案号:鲁ICP备19004570号-37

技术支持:仪表网     管理登陆     sitemap.xml